製品情報

産業技術総合研究所 認定標準物質

材料標準物質

品名容量CRM.No.輸送区分入数Cat.No.価格
蛍光X線用鉄-クロム合金(Cr40%)約30mm、厚さ6mmの円盤状1016-a1個8500-30400販売終了
SiO2/Si多層膜標準物質一辺約13mmの正方形の薄片5202-a1個8500-3040138,220
GaAs/AlAs超格子一辺約15mmの正方形の薄片5203-a1個8500-30402118,300
極薄シリコン酸化膜15mm×15mm5204-b冷蔵1個8500-30438121,290
デルタBN多層膜15mm×15mm5205-a1個8500-3044394,000
デルタBN多層膜(AsドープSi基板)15mm×15mm5206-a1個8500-30459146,250
タングステンドットアレイ7×7×0.7mmの薄片1片5207-a1本8500-3049524,000
金/ニッケル/銅金属多層膜21mm×21mmX2mm5208-a1式8500-30487327,250
陽電子寿命による超微細空孔測定用石英ガラス厚さ1.5mm、15mm角辺2枚入り5601-a1式8500-3040363,375
陽電子寿命による超微細空孔測定用ポリカーボネート厚さ2.0mm、15mm角辺2枚入り5602-a1式8500-3040433,375
低エネルギーひ素イオン注入けい素(レベル:3×1,015atoms/cm2)厚さ0.8mm、15mm角片1枚5603-a1枚8500-3041286,500
低エネルギーひ素イオン注入けい素(レベル:6×1,014atoms/cm2)厚さ0.8mm、15mm角片1枚5604-a1枚8500-3041381,375
ハフニウム定量用酸化ハフニウム薄膜厚さ0.5mm、10mm角片1枚5605-a1個8500-30439105,500
陽電子寿命による空孔欠陥測定用単結晶シリコン板状試験片2枚(15mm角, 厚さ1.0mm)5606-a1式8500-3045452,000
陽電子寿命による空孔欠陥測定用ステンレス鋼板状試験片2枚(15mm角, 厚さ3.0mm)5607-a1式8500-30460*52,500
ポリスチレンラテックス ナノ粒子(120nm)10mL5701-a1本8500-3041433,375
ポリスチレンラテックス ナノ粒子(150nm)10mL5702-a1本8500-3046132,500
ポリスチレンラテックス ナノ粒子(200nm)10mL5703-a1本8500-3046232,500
酸化チタンナノ粒子10g(比表面積11m2/g・大粒子径・表面無処理)5711-a1本8500-30455*27,750
酸化チタンナノ粒子10g(比表面積57m2/g・小粒子径・脂肪酸表面修飾)5712-a1本8500-30456*27,750
酸化チタンナノ粒子5g(比表面積76m2/g・小粒子径・イソブチル基表面修飾)5713-a1本8500-30457*27,750
カーボンブラック(窒素吸着量-BET100)12g5714-a1本8500-3049671,375
ファインセラミックス用炭化けい素微粉末(α型)50g8001-a1本8500-3040517,750
ファインセラミックス用炭化けい素微粉末(β型)50g8002-a1本8500-3040617,750
ファインセラミックス用窒化けい素微粉末(直接窒化合成)I25g8003-a1本8500-3040727,500
ファインセラミックス用窒化けい素微粉末(イミド分解合成)25g8005-a1本8500-3040927,500
ファインセラミックス用アルミナ微粉末(低純度)約50g8006-a1本8500-3041027,750
ファインセラミックス用アルミナ微粉末(高純度)約50g8007-a1本8500-3041127,750

注)送料を別途¥2,000請求させていただきます。
*:NMIJ 標準物質(NMIJ RM)です。