リガク社製蛍光X線分析装置

NEX DE

• 総合カタログ No.31未掲載

研究開発にも適したエネルギー分散型蛍光Ｘ線分析装置

「NEX DE」は、試料にX線を当てて成分を調べるエネルギー分散型蛍光X線分析装置（EDXRF）です。 液体、固体、粉末、合金、さらには薄膜など、あらゆる状態の試料を壊すことなく（非破壊で）分析でき、ナトリウム（Na）からウラン（U）まで幅広い元素に対応しています。

特長

・ごく少量（ミクロスパーテル1杯）や、1mmの微小部分も測れる

　粉末試料であれば、ミクロスパーテル（極小のさじ）に1杯程度の量で十分に感度良く分析できます。
　また、内蔵カメラで試料を観察しながら測定位置を正確に合わせ、最小1mmの小さなピンポイント分析も
　可能です（※VS仕様の場合）。軽元素の測定感度を上げるためのヘリウム置換機構なども備えています。

・粉末X線回折（XRD）の強力なサポート役に

　リガク社製のX線分析統合ソフトウェア「SmartLab Studio II」と連携可能。NEX DEで得られた元素の測定
　データをXRDの結晶相検索に読み込ませることで、よりスムーズで確実な解析をサポートする補助装置として
　も大活躍します。

・FP法によるスタンダードレス分析

　バルクFP法、薄膜FP法を標準で搭載していますので、標準試料が用意できない試料に対しても簡単に
　定性・定量分析が行えます。また，通常の検量線法による定量分析も可能です。

・らくらく分析

　シンプルな操作画面の「らくらく分析」機能を搭載しており、専門の技術者以外のオペレーターでも簡単に
　扱うことができます。通常は基準となる「標準試料」が必要ですが、高度なソフトウェア（RPF-SQX）
　により、標準試料なしでも高精度　な分析が可能です。これにより、コストと手間を大幅に削減できます。

活用事例

　環境・規制対応・リサイクル

電子部品やプラスチック製品などに含まれる有害な重金属
（鉛、カドミウム、水銀など）の含有率をチェックするための
スクリーニング検査
廃棄された自動車触媒から回収する貴金属成分の高精度な定量分析　　等

　工業材料・化学・プラスチック

製品に付加価値を与えるための添加剤
（難燃剤としての臭素やアンチモン、ガラス繊維中の成分など）の分析
紙やフィルムに塗布された極薄のシリコーン膜の確認
電気めっき・スパッタリングによる金属被膜の付着量（厚み）検査　　等

　金属・セメント・鉱業

アルミ合金に含まれる不純物（鉄など）の日常的な品質管理
製鋼プロセスにおけるスラグの分析
工場でのクリンカーや原料の分析
岩石や粘土（カオリン等）の成分チェック
採掘現場での鉱石や尾鉱のスピーディーな組成分析　　等

　　教育・研究機関

特別な冷却設備（冷却水など）が不要で、日常的なメンテナンスや消耗品の手間がかかりません。そのため、学生が元素分析の基礎を実際に体験して学ぶための教育用装置として非常に適しています。

仕様